Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://dspace.oneu.edu.ua/jspui/handle/123456789/1383
Назва: Роль механизмов пластической деформации при формировании наноструктурированного кремния и его фотолюминесцентные свойства
Інші назви: Роль механізмів пластичної деформації при формуванні наноструктурованого кремнію та його фотолюмінесцентні властивості
The role of plastic deformation mechanisms in the formation of nanostructured silicon and its photoluminescence properties
Автори: Кулинич, О.А.
Кулініч, О.А.
Kulinich, O.
Бібліографічний опис: Кулинич О. А. Роль механизмов пластической деформации при формировании наноструктурированного кремния и его фотолюминесцентные свойства / О. А. Кулинич // Известия высшых учебных заведений. Физика. – 2012. - Т. 55, № 1. – С. 52-57.
Дата публікації: 2012
Видавництво: Национальный исследовательский Томский государственный университет
Ключові слова: островки наноструктурированного кремния
дефекты
дислокационные сетки
деформация
острівці наноструктурованого кремнію
дефекти
дислокаційні сітки
деформація
nanostructured silicon islands
defects
dislocation grid
deformation
Короткий огляд (реферат): Показана роль механизмов пластической деформации в процессе получения слоёв наноструктурированного кремния. Процесс получения наноструктурированного кремния заключается в том, что на поверхности кремниевой пластины выращивались слои окиси кремния различной толщины с последующим их удалением и обработкой в избирательных химических травителях (ИТ) до появления бездефектного островкового кремния, обладающего фотолюминесцентными свойствами, характерными для наноструктурированного кремния. Из анализа спектров интенсивности фотолюминесценции, полученных от области островков наноструктурированного кремния, сделан вывод о различии механизмов пластической деформации для различных толщин выращенного оксида кремния. Обсуждаются возможные механизмы смещения максимума интенсивности спектра фотолюминесценции (ФЛ) в коротковолновую область спектра при уменьшении размеров островков наноструктурированного кремния.
Показано роль механізмів пластичної деформації в процесі отримання шарів наноструктурованого кремнію. Процес отримання наноструктурованого кремнію полягає в тому, що на поверхні кремнієвої пластини вирощувалися шари окису кремнію різної товщини з подальшим їх видаленням і обробкою у виборчих хімічних травителях (ІТ) до появи бездефектного острівкового кремнію, що володіє фотолюминесцентными властивостями, характерними для наноструктурованого кремнію. З аналізу спектрів інтенсивності фотолюмінесценції, отриманих від області острівців наноструктурованого кремнію, зроблено висновок про відмінність механізмів пластичної деформації для різних товщин вирощеного оксиду кремнію. Обговорюються можливі механізми зсуву максимуму інтенсивності спектру фотолюмінесценції (ФЛ) у короткохвильову область спектру при зменшенні розмірів острівців наноструктурованого кремнію.
The role of the mechanisms of plastic deformation in the process of producing nanostructured silicon layers . The process of producing nanostructured silicon is that the silicon wafer surface grown silicon oxide layers with different thicknesses and their subsequent removal in the polling processing chemical etchants ( IT ) until a defect-free silicon islanding having photoluminescent properties typical of nanostructured silicon. From the analysis of the spectra of photoluminescence intensity derived from the field of nanostructured silicon islands , concluded that different mechanisms of plastic deformation for different thicknesses grown silicon oxide. Possible mechanisms of the shift of the maximum intensity of the photoluminescence spectrum (PL) to shorter wavelengths with decreasing island size nanostructured silicon.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://dspace.oneu.edu.ua/jspui/handle/123456789/1383
Розташовується у зібраннях:Кафедра експертизи товарів та послуг



Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.