Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://dspace.oneu.edu.ua/jspui/handle/123456789/2552
Назва: Влияние слоя поликристаллического кремния на механизмы токопереноса в контактах «металл – p-кремний»
Інші назви: Вплив шару полікристалічного кремнію на механізми струмопереносу в контактах «метал - р-кремній»
The influence of the layer of polycrystalline silicon on the mechanisms of current transport in contacts metal - p-silicon"
Автори: Кулинич, О.А.
Кулініч, О.А.
Kulinich, O.
Бібліографічний опис: Кулинич О. А. Влияние слоя поликристаллического кремния на механизмы токопереноса в контактах «металл – p-кремний» / О. А. Кулинич, В. А. Смынтына, М. А Глауберман и другие // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2008. - №5. – С. 62-64.
Дата публікації: 2008
Ключові слова: поликристаллы
поликристаллический кремний
процессы туннелирования
электронная сканирующая микроскопия
полікристали
полікристалічний кремній
процеси тунелювання
електронна скануюча мікроскопія
the polycrystals
polycrystalline silicon
processes tunneling
scanning electron microscopy
Короткий огляд (реферат): Увеличение толщины слоя поликристаллического p-кремния приводит к увеличению дрейфовой составляющей тока в зоне пространственного заряда контакта, возникающей вследствие увеличения поверхностной плотности рассеивающей барьеров, локализованных на границах соседних зерен.
Збільшення товщини шару полікристалічного р-кремнію призводить до збільшення дрейфової складової струму в зоні просторового заряду контакту, що виникає внаслідок збільшення поверхневої щільності розсіючих бар'єрів, локалізованих на кордонах сусідніх зерен.
Increasing the thickness of the layer of polycrystalline p-silicon leads to an increase in the drift component of the current in the space charge zone of contact, resulting from the increase of the surface density of the scattering barriers, localized at the borders of neighboring grains.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://dspace.oneu.edu.ua/jspui/handle/123456789/2552
Розташовується у зібраннях:Кафедра експертизи товарів та послуг



Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.