1. Репозитарій Одеського нацiонального економічного унiверситету
  2. 5. Факультет економіки і управління підприємництвом
  3. Кафедра експертизи товарів та послуг
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.oneu.edu.ua/jspui/handle/123456789/2559
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorКулинич, О.А.-
dc.contributor.authorКулініч, О.А.-
dc.contributor.authorKulinich, O.-
dc.date.accessioned2014-11-11T11:53:20Z-
dc.date.available2014-11-11T11:53:20Z-
dc.date.issued2012-
dc.identifier.citationКулинич О. А. Фотолюминесцентный метод исследования пластической деформации на границе раздела «SiO2 – Si» / О. А. Кулинич, И. Р. Яцунский, Т. Ю. Ештокина и другие // Технология и конструирование в электронной аппратуре. – 2012. - № 2. – С. 47-50.ru_RU
dc.identifier.urihttp://dspace.oneu.edu.ua/jspui/handle/123456789/2559-
dc.description.abstractПоказана возможность использовнаия метода фотолюминесценции для изучения механизмов пластической деформации на границе «оксид кремния – кремний» в процессе получения слоев наноструктурированного кремния деформационным методом.ru_RU
dc.description.abstractПоказана можливість використання методу фотолюмінесценції для вивчення механізмів пластичної деформації на межі «оксид кремнію - кремній» в процесі отримання шарів наноструктурованого кремнію деформаційним методом.-
dc.description.abstractThe possibility of exploitation by the photoluminescence method for studying the mechanisms of plastic deformation at the "silicon oxide - silicon" in the process of obtaining nanostructured silicon layers deformation method.-
dc.language.isoruru_RU
dc.subjectлюминесцентнаяru_RU
dc.subjectпластическая деформацияru_RU
dc.subjectдефектыru_RU
dc.subjectдислокацииru_RU
dc.subjectнапряжениеru_RU
dc.subjectлюмінесцентнаru_RU
dc.subjectпластична деформаціяru_RU
dc.subjectдефектиru_RU
dc.subjectдіслокацііru_RU
dc.subjectнапругаru_RU
dc.subjectfluorescentru_RU
dc.subjectplastic deformationru_RU
dc.subjectdefectsru_RU
dc.subjectdislocationsru_RU
dc.subjectstrainru_RU
dc.titleФотолюминесцентный метод исследования пластической деформации на границе раздела «SiO2 – Si»ru_RU
dc.title.alternativeФотолюмінесцентного метод дослідження пластичної диформации на межі розділу «SiO2 - Si»ru_RU
dc.title.alternativePhotoluminescent research method of plastic deformation at the interface «SiO2 - Si»ru_RU
dc.typeArticleru_RU
Располагается в коллекциях:Кафедра експертизи товарів та послуг

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Фотолюминесцентный метод исследования пластической деформации на границе раздела «SiO2 – Si».pdf241,31 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.