Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://dspace.oneu.edu.ua/jspui/handle/123456789/2562
Назва: Investigation of nanostructured silicon surfaces using fractal analysis
Інші назви: Дослідження наноструктурованої поверхні кремнію методами фрактального аналізу
Исследование наноструктурированной поверхности кремния методами фрактального анализа
Автори: Kulinich, O.
Кулініч, О.А.
Кулинич, О.А.
Бібліографічний опис: Kulinich O. Investigation of nanostructured silicon surfaces using fractal analysis / O. Kulinich, V. Smyntyna, I. Iatsunskyi and other // Фотоэлектроника. – 2011. - № 20. - С. 63-66.
Дата публікації: 2011
Ключові слова: nanostructured silicon
fractal analysis
наноструктурований кремній
фрактальний аналіз
наноструктурированный кремний
фрактальный анализ
Короткий огляд (реферат): Fractal analysis was applied to images of nanostructured silicon surfaces which were acquired with a scanning electron microscope. A fractal model describing nanostructured silicon surfaces morphology is elaborated. It were obtained the numerical results for the fractal dimensions for 2 samples with different nanostructured shapes.
Фрактальний аналіз був застосований для дослідження електронних зображень наноструктурованих поверхонь кремнію, визначення їх морфологічних особливостей. Були отримані значення фрактальної розмірності для двох зразків з різною формою наноструктуровання.
Фрактальный анализ был применен для исследования электронных изображений наноструктурированных поверхностей кремния, определения их морфологических особенностей. Были получены значения фрактальной размерности для двух образцов с различной формой наноструктурирования.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://dspace.oneu.edu.ua/jspui/handle/123456789/2562
Розташовується у зібраннях:Кафедра експертизи товарів та послуг

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Investigation of nanostructured silicon surfaces using fractal analysis.pdf1,05 MBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.